СЭМ-де беттің морфологиясын зерттеу
Бағасы сұраныс бойыншаРастрлық электрондық микроскопия: беттің және сынықтың кескіндері, құрылым өлшемдерін бағалау; төмен вакуум режимі өткізбейтін үлгілерді тұндырусыз қарауға мүмкіндік береді.
Ғылым каталогына
Әл-Фараби атындағы ҚазҰУ · ашық түрдегі зертхана
ҰНЗАТ — Ашық түрдегі ұлттық нанотехнологиялық зертхана
Наноматериалдар мен наноэлектроника: графен, көміртекті нанотүтікшелер, жұқа қабықшалар. Ашық түрдегі зертхана — ашық дереккөздерде сыртқы тапсырыс берушілерге қызмет көрсету тікелей жарияланған. Аспаптар паркі сырттан келген үлгілермен жұмысқа есептелген.
Каталог ақпараттық сипатта: оны хаб ашық дереккөздер бойынша жинаған, ол оферта емес. Хаб университеттің өкілі болып әрекет етпейді және оның жабдығына билік етпейді. Қызметтердің құрамын, мерзімін және құнын әр сұраныс бойынша зертхана растайды.
Зертхана туралы
ҚазҰУ жанындағы ашық түрдегі зертхана. Негізгі бағыттары — наноматериалдарды (графен, көміртекті нанотүтікшелер) синтездеу және диагностикалау, наноэлектроника, жұқа қабықшалы жабындар. Электрондық және атомдық-күштік микроскопия, раман спектроскопиясы (оның ішінде зондпен күшейтілген), рентгендік шашырау мен дифракция, оптикалық спектрофотометрия, вакуумда қабықша тұндыру қолжетімді. Қызметтер тізімі, аспаптардың жүктемесі және құны зертханада нақтыланады.
Қызметтер
Тізімді хаб ашық деректер бойынша жасаған, ол зертхананың растауын талап етеді.
Атомдық-күштік микроскопия (АКМ)
Бағасы сұраныс бойыншаБеттің топографиясы мен профилометриясы нанометрлік ажыратымдылықпен, кедір-бұдырлықты және қабықша қалыңдығын бағалау.
Раман спектроскопиясы және TERS
Бағасы сұраныс бойыншаКомбинациялық шашырау спектрлері, оның ішінде зондпен күшейтілген (TERS): көміртекті материалдарды сәйкестендіру, ақаулықты және графен қабаттарының санын бағалау.
Рентгендік шашырау және дифракция (SAXS/WAXS, XRD)
Бағасы сұраныс бойыншаНанобөлшектердің өлшемдері, кеуектілік, надмолекулалық құрылым; кристалды материалдардың фазалық талдауы.
Жұқа қабықшаларды тұндыру
Бағасы сұраныс бойыншаТапсырыс берушінің төсеніштеріне қалыңдығын бақылай отырып вакуумда жұқа қабықшалы жабындар тұндыру.
Жабдық
| Аспап | Моделі | Қандай тапсырмаларға | Санаты |
|---|---|---|---|
| Растрлық электрондық микроскоп (СЭМ) | Quanta 200i 3D | Беттің және сынықтардың морфологиясы, құрылымдарды микроталдау, өткізбейтін үлгілермен жұмыс. | Микроскопия |
| Сканерлеуші зондтық микроскоп (АКМ) | Integra | Нанометрлік топография, кедір-бұдырлық, қабықша қалыңдығы. | Микроскопия |
| АКМ-Раман кешені (TERS) | — | Бір нүктеде топография мен химиялық сәйкестендіруді біріктіру; зондпен күшейтілген сигнал. | Спектроскопия және масс-спектрометрия |
| Рентгендік шашырау қондырғысы | SAXS/WAXS | Нанобөлшектер өлшемі, кеуектілік, полимерлер мен композиттердің надмолекулалық құрылымы. | Спектроскопия және масс-спектрометрия |
| Рентгендік дифрактометр | Rigaku MiniFlex 600 | Ұнтақтар мен жабындардың фазалық талдауы, кристаллиттер өлшемін бағалау. | Спектроскопия және масс-спектрометрия |
| UV-Vis-NIR спектрофотометрі | UV-3600 | Өткізу және жұту оптикалық спектрлері, тыйым салынған аймақ енін бағалау. | Спектроскопия және масс-спектрометрия |
| Жұқа қабықшаларды вакуумда тұндыру қондырғысы | — | Төсеніштерде металл және оксид жабындарын қалыптастыру. | Басқа |
Сұраныс
Тапсырманы сипаттаңыз
Куратор жұмыс уақытында жауап беріп, әдісті нақтылайды және мерзім мен құнды айтады. Оған дейін ешқандай міндеттеме жоқ.