Исследование морфологии поверхности на СЭМ
Цена по запросуРастровая электронная микроскопия: изображения поверхности и скола, оценка размеров структур; режим низкого вакуума позволяет смотреть непроводящие образцы без напыления.
К каталогу науки
КазНУ им. аль-Фараби · лаборатория открытого типа
ННЛОТ — Национальная нанотехнологическая лаборатория открытого типа
Наноматериалы и наноэлектроника: графен, углеродные нанотрубки, тонкие плёнки. Лаборатория открытого типа — в открытых источниках прямо заявлены услуги сторонним заказчикам. Приборный парк рассчитан на внешние образцы.
Каталог информационный: он составлен хабом по открытым источникам и не является офертой. Хаб не выступает представителем университета и не распоряжается его оборудованием. Состав услуг, сроки и стоимость по каждому запросу подтверждает лаборатория.
О лаборатории
Лаборатория открытого типа при КазНУ. Основные темы — синтез и диагностика наноматериалов (графен, углеродные нанотрубки), наноэлектроника, тонкоплёночные покрытия. Доступны электронная и атомно-силовая микроскопия, рамановская спектроскопия (в том числе усиленная зондом), рентгеновское рассеяние и дифракция, оптическая спектрофотометрия, вакуумное нанесение плёнок. Состав услуг, загрузка приборов и стоимость уточняются у лаборатории.
Услуги
Перечень составлен хабом по открытым данным и подлежит подтверждению лабораторией.
Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
Цена по запросуТопография и профилометрия поверхности с нанометровым разрешением, оценка шероховатости и толщины плёнок.
Рамановская спектроскопия и TERS
Цена по запросуСпектры комбинационного рассеяния, в том числе усиленные зондом (TERS): идентификация углеродных материалов, оценка дефектности и числа слоёв графена.
Рентгеновское рассеяние и дифракция (SAXS/WAXS, XRD)
Цена по запросуРазмеры наночастиц, пористость, надмолекулярная структура; фазовый анализ кристаллических материалов.
Нанесение тонких плёнок
Цена по запросуВакуумное нанесение тонкоплёночных покрытий на подложки заказчика с контролем толщины.
Оборудование
| Прибор | Модель | Для каких задач | Категория |
|---|---|---|---|
| Растровый электронный микроскоп (СЭМ) | Quanta 200i 3D | Морфология поверхности и сколов, микроанализ структур, работа с непроводящими образцами. | Микроскопия |
| Сканирующий зондовый микроскоп (АСМ) | Integra | Нанометровая топография, шероховатость, толщина плёнок. | Микроскопия |
| Комплекс АСМ-Раман (TERS) | — | Совмещённая топография и химическая идентификация в одной точке; усиленный зондом сигнал. | Спектроскопия и масс-спектрометрия |
| Установка рентгеновского рассеяния | SAXS/WAXS | Размеры наночастиц, пористость, надмолекулярная структура полимеров и композитов. | Спектроскопия и масс-спектрометрия |
| Рентгеновский дифрактометр | Rigaku MiniFlex 600 | Фазовый анализ порошков и покрытий, оценка размера кристаллитов. | Спектроскопия и масс-спектрометрия |
| Спектрофотометр UV-Vis-NIR | UV-3600 | Оптические спектры пропускания и поглощения, оценка ширины запрещённой зоны. | Спектроскопия и масс-спектрометрия |
| Установка вакуумного напыления тонких плёнок | — | Формирование металлических и оксидных покрытий на подложках. | Другое |
Запрос
Опишите задачу
Куратор ответит в рабочее время, уточнит метод и назовёт срок и стоимость. До этого никаких обязательств.